Ключевые слова: power equipment, FCL resistive, modeling, modeling computational, resistance
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, nanoscaled effects, nanodots, MOD process, interfaces, microstructure, critical current, fabrication
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.